Z-Новости
[11.04.2023] В России предложили новый способ измерения оптической толщины тонких пленок
Ученые Научно-технологического центра уникального приборостроения (НТЦ УП) РАН и Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН представили новую технику измерения оптической толщины тонких диэлектрических покрытий. Метод позволит быстрее и тщательнее изучать их свойства, что усовершенствует процесс изготовления таких пленок, сообщили в понедельник в пресс-службе Минобрнауки РФ.
